Testing, reliability and application of micro- and nano-material systems - 3-5 March 2003, San Diego, California, USA

Författare
(Norbert Meyendorf, George Y. Baaklini, Bernd Michel, chairs/editors)
Genre
Konferenspublikation
Språk
Engelska
Förlag År Ort Om boken ISBN
Cop. 2003 USA 276 sidor. 0-8194-4850-8